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Produktinfo
- Autor/in
- Herausgeber FKM
- EAN
- 4250697512461
- Auflage
- 2000
- Lieferzeit
- Lieferzeit ca. 1 Woche
Neue Bildverarbeitungstechnologien tür die automatisierte optische Kontrolle strukturierter Oberfläc
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344,05 EUR exkl. MwSt
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Beschreibung
Heft Nummer 250
Vorhaben Nr. 216
Kurzfassung:
Gegenstand des vorliegenden Berichtes ist die Untersuchung von Einsatzmöglichkeiten moderner Bildverarbeitungstechnologien bei der Oberflächen inspektion schnell bewegter, mehrfarbiger und komplex strukturierter Bahnenware. Auf der Grundlage eines praxisrelevanten Anwendungsprofils aus dem Bereich des Textildrucks wurden für die geräte- und verfahrenstechnischen Komponenten eines derartigen und bewertet. Die gerätetechnischen Untersuchungen konzentrierten sich auf Farbzeilenkameras, direktstrahlende und faseroptische Beleuchtungseinrichtungen, die Nutzung von Mehrprozessorkarten-Systemen und MMxTM- Zur Korrektur von Farbabweichungen wurden Farbkalibrierungsverfahren und weiterentwickelt sowie Ansatze für den Online-Einsatz formuliert. Aufgrund der hohen und Mustervielfalt bei gleichzeitiger Echtzeitverarbeitung großer Datenmengen Detektion von Druckfehlern mustervergleichende Bildverarbeitungsverfahren auf niederem Für den pixel- und segmentorientierten Bild-Bild-Vergleich sowie die Vorhaben Nr216 -Abschlußbericht - den eigentlichen Matchingoperationen wurden dabei verschiedene, teilweise neu- bzw. Verfahren zur Verzugskorrektur, Rapportbestimmung, Bildvorverarbeitung und die Forschungsarbeiten wurde exemplarisch gezeigt, dass durch den Einsatz visueller eine Qualitätskontrolle mehrfarbiger, komplex gemusterter, textiler Bahnenware Teilen auf andere Branchen übertragen werden. Forschungsstellen:
125 S., 83 Abb., 118 Lit. 01.11.1996 31.05.1999 AiF / BMWi, AiF-Nr.: 10904B 1.) Technische Universität Ilmenau, Fakultät für Informatik und Automatisierung, Fachgebiet Graphische Datenverarbeitung Leitung:
PD Dr.-lng. habil. K.-H. Franke 2.) Fraunhofer-lnstitut für Produktionsanlagen und Konstruktionstechnik, Bereich Prozesstechnik, Abteilung Mustererkennung Leitung:
Dr.-lng. B. Nickolay 1.) Dipl.-lng. C. Lucht 2.) Dipl.-lnf. C. Nowack, Dr.-lng. G.-S. Rösel Dr.-lng. N. Stein VITRONIC Dr.-lng. Stein Bildverarbeitungssysteme GmbH Dipl.-lng. J. Rabe, Sachsen ring AG
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